衝撃試験装置

製品ラインナップ

ASQ シリーズ

ASQ シリーズ

マイクロデバイスから大型製品まで, 正弦半波, 台形波パルスによる衝撃試験が実施できます。

MDST シリーズ

MDST シリーズ

緩衝可変装置(特許No.1259037)による広範囲の任意の作用時間の正弦半波を発生。

SDST シリーズ

SDST シリーズ

ゴムパットの交換により, 所要の作用時間となる正弦半波パルスを発生。

HDST シリーズ

HDST シリーズ

パソコン部品や携帯電話等の小型軽量の製品に高加速度衝撃を加えて製品の耐衝撃性を試験する装置。

振子式衝撃試験装置 PST-300

振子式衝撃試験装置 PST-300

小型製品, マイクロデバイス等の高範囲加速度の正弦半波パルスの試験。

高加速度発生装置 HGP-20/150

**衝撃試験装置専用オプションです**

高加速度発生装置 HGP-20150

発生する衝撃加速度波形は正弦半波で, 2000〜50000m/s2 (HGP-150はmax 400000m/s2) の任意の衝撃加速度を供試品に加えられます。

最終更新日: 2010/09/02 TOP

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